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32.768KHz晶振测试仪

2023/11/11

  32.768KHz晶振测试仪

  CX-118A型晶振测试仪

  1.概述

  CX-118A型晶振测试仪使用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1~Pr8(ppm) 、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。

  2.主要特征

  2.1 本机采用倒数计数技术,测量精度高,测量范围宽,真正实现等精度测量,测量速度快,灵敏度高。

  2.2 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理,使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能/价格比。

  2.3 整机采用大规模集成电路设计,CPLD器件的运用,使仪器元器件大为减少,可靠性有了很大的提高,平均无故障工作时间≥10000h。

  整机外型美观大方,体积小,重量轻,使用方便。

  3.技术参数

  3.1 测量范围

  频率测量:A通道:1Hz~100MHz;

  B通道:100MHz~1.6GHz(选件)

  周期测量:A通道:10ns~1s

  PPM测量:-9999~9999ppm

  上、下限测量:可根据用户所设定的上限参数FU、下限参数FL来测量被测频率是否超出上、下限,超限则报警。

  分档测量:根据用户所设定的中心频率F0自动进行分档测量。 分档值:Pr1~Pr8可在1~999ppm之间任意设置

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吴先生04:43:05
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